การตรวจหารอยลายแฝงด้วยวิธีการทางฟิสิกส์
การตรวจหารอยลายแฝงด้วยวิธีการทางฟิสิกส์
วิธีการที่ใช้มากในการตรวจสถานที่เกิดเหตุเกี่ยวกับการหารอยลายแฝงคือ ประโยชน์ของแสง และที่มีใช้อยู่ในการทำงานของกองพิสูจน์หลักฐานในประเทศไทยปัจจุบัน คือ แสงเลเซอร์ (LASER) และเครื่องโพลีไลท์ (Polilight) เราใช้ประโยชน์ของแสงเลเซอร์นี้ในการตรวจหารอยลายแฝงที่วัตถุพื้นผิวชนิดต่างๆ ได้ เช่น แก้ว กระจก ผนัง พลาสติก และไม้ เป็นต้น และยังสามารถนำไปใช้ประโยชน์ในการตรวจร่องรอยในลักษณะอื่นๆ ได้อีก เช่น รอยขูดลบแก้ไขเอกสาร ชนิดของหมึก รอยเหยียบย่ำ เป็นต้น นับว่าเป็นเครื่องมือที่ดีมากเครื่องหนึ่ง
เครื่องมือนี้ใช้โคมแสงก๊าซซีออน (Xenon Arc Lamp) ซึ่งเป็นก๊าซที่เป็นธาตุบริสุทธิ์ มีน้ำหนักมาก (น้ำหนักปรมาณูเท่ากับ 131.3 เท่าของไฮโดรเจน) ปรกติใช้เป็นยาสลบได้ และยังเพิ่มความสว่างของไฟฟ้าด้วย ในด้านการทำงานของเรา เราใช้ Xenon Arc Lamp นี้เองเป็นแหล่งกำเนิดแสง ซึ่งเป็นเครื่องมือน้ำหนักเบา สามารถใช้ได้ทั้งในและนอกสถานที่ ปกติมีสภาวะทางแสงเป็นสีขาวที่สามารถเปลี่ยนเป็นแสงสีต่างๆ ได้ 5 ช่องสี โดยการใช้เครื่องกรองแสง (Filter) ซึ่งแสงแต่ละช่องสีจะมีความเหมาะสมกับการตรวจหารอยลายแฝงบนพื้นผิวและวัตถุที่มีลักษณะต่างๆ กัน